航天半导体器件失效分析中心简介

    中国航天总公司半导体器件失效分析中心多年来一直是航天系统电子元器件（特别是半导体器件）可靠性工作的重点单位，是航天电子元器件失效分析和破坏性物理分析（DPA）的认可单位，也是航空系统认可的电子元器件检验与失效分析站，多年来为各种型号、重点工程上军用电子元器件进行了大量的失效分析和破坏性物理分析工作，提供了不少宝贵的信息。
    我中心是国内最早开展半导体器件可靠性研究的单位，也是国内最早成立的专门的半导体器件失效分析（1987年）单位，又于1984编辑出版了美军标MIL-STD-883C最早的中译本，1990年起草了最早的失效分析和DPA标准QJ1906-90《半导体器件破坏性物理分析/失效分析方法和程序》。
    我中心立足航天、确保军工、走向市场，拥有老中青各级分析专家，技术力量雄厚，近年来又引进和即将引进一些先进的分析测试设备，为可靠性工作研究、先进分析技术的推广咨询、对外拓展分析业务、强化质量意识奠定了坚实的组织、技术和思想基础。
    分析中心处在771所科研与生产相结合、整机与电路相结合的优势环境下，有为4条国军标生产线进行电路失效分析与鉴定试验的成功经验，这些都为各项工作的不断深入创造了有利条件。多年来，分析中心技术力量不断增强，现已发展到今天具有分析所有半导体器件和部分元件的技术队伍，并且在知识结构和年龄层次上形成了稳定的梯形结构。现有职工25名，其中技术人员16名（高级工程师4名，工程师6名，助理工程师7名），技术工人8名。多年来，分析中心完成航天各种型号系列用半导体器件失效分析3000余例，积累了丰富经验，为确保我国军事产品质量的提高和国防型号任务的顺利完成，做出了重要的贡献。
    分析中心现拥有微探针台、金相（立体）显微镜、红外显微镜、X射线探伤机、进口静电模拟器、半导体参数测试分析系统、键合拉力芯片剪切力测试仪、PIND、粗细检漏仪、等离子发射光谱仪、气相色谱仪、高低温试验探头、数字（模拟）集成电路测试仪等先进的分析、测试和试验设备。
    为进一步提高管理和技术水平，航天半导体器件失效分析中心于2001年建立了满足GJB2725-96《校准实验室和测试实验室通用要求》的实验室质量体系。本中心现由五个专业实验室（简称专业室）组成，分别是失效分析室、破坏性物理分析（ＤＰＡ）室、测试室、试验室和理化分析室。
本中心的质量方针是：“准确可靠，质量第一，客观公正，服务用户”
本中心的质量目标是：两年内建立健全满足实验室通用要求的质量体系；技术报告的结论性更改率小于1%。
    本中心的质量承诺是：以准确及时、客观公正的测试、分析结果为用户服务。